期刊简介

               《检验检疫学刊》是由国家质量监督检验检疫总局主管,中国检验检疫科学研究院和中国检验检疫学会联合主办,《食品指南》杂志社编辑、出版,国内外公开发行的国家级科技期刊。现被中国核心期刊(遴选)数据库、中国科技论文与引文数据库(CSTPCD)、中国学术期刊网络出版总库、中文科技期刊数据库等著名检索机构全文收录,适合检验检疫技术人员、业务管理人员、质量监督技术人员、大专院校相关专业及企业有关科技人员阅读。                

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检验检疫学刊杂志2004年第03期

电感耦合等离子体原子发射光谱同时测定金属硅中微量和痕量杂质元素

宋武元;卞群州;梁静;郑建国;张桂广

关键词:ICP-AES, 金属硅, 微量和痕量杂质元素
摘要:研究了金属硅中微量和痕量杂质元素Al、Ca、Fe、Mn、P、Cr、Cu、Ni、Ti、V、Zr、As和B等电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)的同时测定方法,样品以HNO3、HCl和HF挥硅处理方法,在样品处理过程中,加入适量体积的甘露醇能够抑制B的挥发.在优化选定的仪器条件和测定介质下测定金属硅样品,用本方法测定了一个金属硅标准样品NIST SRM-57a,结果令人满意.金属硅样品中微量和痕量杂质元素的回收率均在95%~105%之间,相对标准偏差RSD均小于5%,该法操作简便、分析快速、结果准确可靠.